SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。該設(shè)備是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。
SEM掃描電鏡的分辨率可以達到納米級別，甚至在一些先進的設(shè)備中可以達到亞納米級別，能夠清晰地觀察到樣品表面的細微結(jié)構(gòu)和形貌特征。具有良好的景深，可以展示樣品的立體結(jié)構(gòu)，便于理解樣品的形貌。
SEM掃描電鏡憑借其高分辨率和多功能性，在眾多領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用：
1、材料科學：用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、成分和缺陷，如觀察金屬材料的晶粒、相界面和微觀裂紋等，有助于優(yōu)化材料性能和開發(fā)新材料。
2、納米技術(shù)：用于分析和表征納米材料，如觀察納米顆粒、納米線、納米管等納米結(jié)構(gòu)的形態(tài)和尺寸，幫助研究人員理解納米材料的特性和行為。
3、生物醫(yī)學：用于觀察細胞、組織和微生物等生物樣品的超微結(jié)構(gòu)。
4、半導(dǎo)體行業(yè)：在半導(dǎo)體制造過程中，用于檢測芯片表面的缺陷、測量線寬和層厚，確保生產(chǎn)工藝的精確控制。
5、地質(zhì)學：用于研究礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分，如觀察礦物的晶體形態(tài)、裂隙和包裹體等，幫助地質(zhì)學家了解礦床的成因和演化過程。
